臺積電用上英偉達(dá)AI技術(shù) 光刻成本降50%

時間:2026-06-04

來源:電子技術(shù)應(yīng)用

導(dǎo)語:6 月 1 日消息,英偉達(dá)今日宣布,全球頂尖半導(dǎo)體企業(yè)臺積電正采用英偉達(dá)加速計算與人工智能技術(shù),推動半導(dǎo)體設(shè)計與制造領(lǐng)域的發(fā)展。

  6 月 1 日消息,英偉達(dá)今日宣布,全球頂尖半導(dǎo)體企業(yè)臺積電正采用英偉達(dá)加速計算與人工智能技術(shù),推動半導(dǎo)體設(shè)計與制造領(lǐng)域的發(fā)展。

  隨著芯片工藝邁入更先進(jìn)制程,將芯片從設(shè)計階段推向規(guī)?;慨a(chǎn),已成為全球難度最高的計算挑戰(zhàn)之一。如今,計算光刻、晶體管仿真、制程控制以及晶圓檢測工作,都需要大規(guī)模仿真運算與實時優(yōu)化,同時也離不開可在物理運算、圖像分析及各類應(yīng)用場景中提供支持的人工智能系統(tǒng)。

  臺積電正借助英偉達(dá)技術(shù)推進(jìn)這場產(chǎn)業(yè)變革,在半導(dǎo)體設(shè)計與制造全流程中落地加速計算和人工智能方案,以此縮短先進(jìn)晶圓廠的生產(chǎn)周期、提升能效、提高良率并改善整體運營效率。

  英偉達(dá)創(chuàng)始人兼首席執(zhí)行官黃仁勛表示:“英偉達(dá)與臺積電攜手合作近三十載,不斷突破計算技術(shù)的極限。臺積電將英偉達(dá)人工智能與加速計算技術(shù)落地到晶圓廠生產(chǎn)環(huán)節(jié),依托仿真、優(yōu)化及人工智能技術(shù)攻克全球頂尖的設(shè)計與制造難題,為新一代芯片提速、增效、提良。”

  臺積電董事長兼首席執(zhí)行官魏哲家稱:“臺積電與英偉達(dá)建立了長期穩(wěn)固的合作關(guān)系,雙方始終深耕前沿技術(shù),為下一代計算產(chǎn)業(yè)發(fā)展筑牢根基。在晶圓廠運營優(yōu)化、光刻、制程控制與檢測等環(huán)節(jié)應(yīng)用英偉達(dá)加速計算和人工智能技術(shù),將進(jìn)一步鞏固我們的技術(shù)領(lǐng)先優(yōu)勢與頂尖制造能力,助力客戶打造未來產(chǎn)品、收獲商業(yè)成功?!?/p>

  先進(jìn)半導(dǎo)體的設(shè)計與制造,存在海量計算任務(wù),同時要求晶圓廠各環(huán)節(jié)高度協(xié)同,覆蓋芯片設(shè)計導(dǎo)入、晶體管建模、制程管控及廠區(qū)產(chǎn)能管理等多個領(lǐng)域。

  臺積電在英偉達(dá)圖形處理器(GPU)上,運用英偉達(dá) CUDA-X 函數(shù)庫與人工智能模型加速各類計算任務(wù):

  1. 計算光刻:臺積電采用面向光刻工藝的 GPU 加速函數(shù)庫英偉達(dá) cuLitho。光刻是芯片掩模設(shè)計的核心制版工藝,相較于傳統(tǒng)基于中央處理器(CPU)的計算光刻方案,該技術(shù)在綜合擁有成本不變的前提下,將成本效益或生產(chǎn)周期優(yōu)化了 20% 至 50%。

  2. 晶體管、設(shè)備與制程仿真:臺積電使用英偉達(dá) cuEST 電子結(jié)構(gòu)仿真函數(shù)庫開展半導(dǎo)體材料設(shè)計,依托 GPU 加速技術(shù),化學(xué)仿真運算速度平均提升 50 倍。

  3. 先進(jìn)制程控制:臺積電借助英偉達(dá) cuML 機器學(xué)習(xí)函數(shù)庫,在 GPU 上加速大規(guī)模數(shù)據(jù)分析。該方案可快速運算算法,并梳理數(shù)萬道生產(chǎn)工序中的數(shù)十萬項制程參數(shù),將其精準(zhǔn)輸入機器學(xué)習(xí)模型,大幅降低制程波動。

  4. 晶圓廠運營優(yōu)化:基于 CUDA 實現(xiàn) GPU 加速排程運算,搭配英偉達(dá) H200 GPU,顯著提升了晶圓廠產(chǎn)能。借助 H200 GPU 的 CUDA 算力,臺積電能夠更好地應(yīng)對各類復(fù)雜生產(chǎn)限制,精簡生產(chǎn)流程,最大化廠區(qū)產(chǎn)能。

  芯片工藝愈發(fā)精密,即便是微小瑕疵也會影響產(chǎn)品品質(zhì)與良率,因此更快速、精準(zhǔn)的檢測手段,成為半導(dǎo)體設(shè)計與制造的關(guān)鍵。

  據(jù)IT之家了解,臺積電采用英偉達(dá) Metropolis 智能視覺平臺與 TAO 工具包,優(yōu)化高端芯片的缺陷分類工作。依托視覺人工智能技術(shù),臺積電實現(xiàn)了納米級缺陷檢測能力的升級。該套方案不僅提升了質(zhì)檢水平,當(dāng)生產(chǎn)環(huán)境、檢測設(shè)備及缺陷類型發(fā)生變化時,還能減少數(shù)據(jù)標(biāo)注與模型重新訓(xùn)練的工作量。

  高端半導(dǎo)體晶圓廠是目前結(jié)構(gòu)最為復(fù)雜的工業(yè)設(shè)施之一,需要實現(xiàn)生產(chǎn)設(shè)備、物料、機械臂、工作人員及廠區(qū)配套系統(tǒng)的精密協(xié)同。臺積電正探索運用英偉達(dá) Omniverse 函數(shù)庫搭建晶圓廠數(shù)字孿生(FabTwin),打造虛擬晶圓廠環(huán)境,用于評估生產(chǎn)設(shè)備布局及相關(guān)仿真工作流。在實體落地前先通過數(shù)字化方式測試各類設(shè)計方案,能夠更靈活地對比復(fù)雜布局,提前排查潛在運行瓶頸。這種先虛擬、后實體的模式,大幅提升規(guī)劃效率,在投入實體建設(shè)與資金前,加快關(guān)鍵決策落地。


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